Chroma 19301A 脈沖測試器  求購
Chroma/致茂臺灣19301A繞線元件脈沖測試器主要特點：

高低感量測試應用(0.1uH~100uH)
10V~1000V脈沖測試電壓,0.25V測量解析度
高速測量 120mS(Pulse 1.0,標準充電時間)
具備電感測量接觸檢查功能
具備電感差異電壓補償功能
脈沖測試高取樣率(200MHz),10bits
崩潰電壓分析功能
低電壓量測檔位,提高波形分析靈敏度(32V/64V/128V/256V/512V/1024V)
繁中/ 簡中 / 英文操作介面
USB波形儲存與畫面擷取功能
圖形化彩色顯示
標準LAN,USB,RS232介

Chroma/致茂臺灣19301A繞線元件脈沖測試器產(chǎn)品描述：

Chroma 19301為繞線元件脈沖測試器，結(jié)合了 高低感量測技術(shù)應用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍 感量產(chǎn)品測試滿足大部份功率電感測試需求， 擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動 偵測(FLUTTER)及波形二階微分偵測(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測線圈自體不良。

繞線元件于生產(chǎn)檢測包含電氣特性、電氣安規(guī) 耐壓進行測試，而線圈之自體不良通常是 造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路 之根源。其形成原因可能初始設(shè)計不良、 molding加工制程不良，或材料之劣化等所 引起，故加入線圈層間短路測試有其必要性。

Chroma 19301為針對繞線元件測試需求所設(shè)計， 利用一高壓充電之微小電容(測試能量低)與待測 線圈形成RLC并聯(lián)諧振，由振蕩之衰減波形，透 過高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗出線 圈自體之不良，提供功率電感元件進行繞線 品質(zhì)及磁芯之耐壓測試，讓元件生產(chǎn)廠商及使用 者能更有效的為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19301應用于低感量繞線元件測試，感量可達0.1uH，針對低感量測試特性提供四線 式測量、接觸檢查功能、電感檢查與電壓補償功 能，可避免因待測物感量變化大或配線等效電感 而造成測試電壓誤差大，為低感量繞線元件脈沖 測試利器。

Chroma 19301于自動化生產(chǎn)上應用，擁有超高速 測量速度有效縮短測試時間提升生產(chǎn)效率，且電 壓補償功能改善了自動化機臺配線等效電感之影 響。

全新的人機操作介面，整合圖形化彩色顯示并提 供畫面擷取功能，透過前面板USB儲存波形，不 僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場，更可應用于研發(fā)、品保單位 使用進行樣品分析比對，大幅提升操作便利性。

量測技術(shù)-脈沖測試概論與原理

所謂的『繞線元件脈沖測試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，以一脈沖電壓加于并聯(lián)線圈的振蕩電容(Cs)上，使 并聯(lián)電容與線圈產(chǎn)生LCR振蕩，觀察振蕩衰減情況來了解線圈內(nèi)部狀態(tài)，包含線圈自體之線圈感量及并聯(lián)電容量(Cw)等狀態(tài)(如圖1: 測試等效電路圖 ) ，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例 如：繞線層間短路、電極焊接不良、內(nèi)部線圈或磁芯，不良等。