多芯單模光纖的優(yōu)勢

衰減系數(shù)

多芯單模光纖的優(yōu)勢是通過對近200km長光纖的檢測和研究，多芯單模光纖的衰減系數(shù)都達到與相應(yīng)單芯光纖接近的水平。

彎曲和微彎曲損耗特性

多芯單模光纖的彎曲和微彎曲損耗特性良好， 引入的附加損耗可忽略。這是得益于較高的折射率著因而較強的模限制能力。多芯單模光纖的優(yōu)勢多芯單模光纖在l 310nm波長和1 550nm波長的模場直徑分別為8.4±0.21un和9.75±0.25um ，比普通單模光纖的略小

串?dāng)_特性

對以30 g張力繞在直徑15 cm光纖箍上的l0 km光纖進行了各芯間的串?dāng)_特性測量， 在l 310 nm波長，小于-70dB;在1 550 nm波長，小于一50 dB，均優(yōu)于所要求的-35 dB的指標(biāo)。即使將纖長增加到30 km、張力在0—30g之間改變， 串?dāng)_特性的變化也僅幾dB。

機械強度

進行了10m樣長的拉伸試驗， 平均強度70N。而常規(guī)125um直徑的光纖為60 N，這是因為多芯單模光纖的截面積大。斷裂應(yīng)力4.6 GPa，為常規(guī)125 um直徑光纖的94%。

幾何尺寸

在一次拉絲過程中，光纖截面尺寸起伏的標(biāo)準(zhǔn)偏差為±0.2um： 對于多次拉絲的統(tǒng)計，光纖截面尺寸起伏的標(biāo)準(zhǔn)偏差為±2um，達到拉制常規(guī)光纖的水平。相鄰芯之間間隔的標(biāo)準(zhǔn)偏差為±lum。隨后進行的各種連接實驗證明，多芯單模光纖的優(yōu)勢幾何精度是適當(dāng)?shù)摹?

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