技術參數
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型號 |
QuaNix 4200 |
QuaNix 4500 |
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基體 |
Fe磁性 |
Fe/NFe磁性非磁性 |
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探頭形式 |
一體 |
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顯示 |
LCD數字顯示 |
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測量范圍 |
0－3000μm |
Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm |
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測量精度 |
0－50μm：≤±1μm， 50－1000μm：≤±1.5%， 1000－2000μm：≤±2%，2000－5000μm≤±3% |
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顯示精度 |
1μm |
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工作溫度 |
－10－＋60℃ |
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溫度補償 |
0－50℃ |
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最小基體 |
10mm×10mm |
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最小曲率 |
凸、凹半徑：3mm/25mm |
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最薄基體 |
Fe：0.2mm，NFe：0.05mm |
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電源 |
5號電池2節 |
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重量 |
110g |
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尺寸 |
110×60×27mm |
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特點：
零位穩定：
所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位，
可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩定是保證測量準確的前提。
一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，
確保準確測量
溫度補償：
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
紅寶石探頭：
探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
獨特的直流采樣技術：
使得測量重復性較傳統交流技術有無可比擬的優越和提高
