USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點：
1、消除背面反射光
采用特殊光學系，消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。

2、可測定微小領域的反射率
用對物鏡對焦于小區域（φ60μm），可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點。

3、測定時間短
使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測定，可迅速實現再現性很高的測定。

4、XY色度圖、L*a*b測定可能
以分光測定法為基準，從分光反射率情況可測定物體顏色。

5、可測定的Hard Coat（高強度鍍膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚（單層膜）。

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途：

1、各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取透鏡等）

2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定（單層膜）

本裝置不保證溯源體系中的精度。 

可以特別訂做測定波長440 nm～840 nm規格。

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