羅德與施瓦茨 RT-ZD40 4.5GHz有源差分探頭

R&S RT-ZD 40是一種高輸入阻抗的微分探頭.它用于從直流到4.5GHz的差動(dòng)電壓測(cè)量。

4.5 GHz，有源，差分， 1 MΩ II 0.4 pF，R&S-ProbeMeter電壓計(jì)，微按鈕

羅德與施瓦茨 RT-ZD40 4.5GHz有源差分探頭主要特點(diǎn)

優(yōu)異的頻率響應(yīng)平坦度，高輸入阻抗及低輸入電容，使得此探頭可以對(duì)差分信號(hào)進(jìn)行測(cè)量，且負(fù)載效應(yīng)極低。在整個(gè)探頭帶寬范圍內(nèi)的高共模抑制比使其具備較高的抗干擾性。特殊的探測(cè)適配附件能夠滿(mǎn)足各種探測(cè)環(huán)境并具備很高的信號(hào)保真度

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PCIe系列

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模塊系列9237/9203/9375/9213/9234/9264/9264/9361等各種NI系列產(chǎn)品

1、有MOXA公司卡如下:CP104UL、CP104H、CP168U、CP168H、CP114I、CP132I、CP132U、CP-134U、CP-138U、C218Turbo/PCI、CP168EL-A、IMC-21-S-SC

2、手機(jī)測(cè)試卡有GSM測(cè)試卡，小靈通測(cè)試卡

3、其他產(chǎn)品有:德國(guó)赫優(yōu)訊HILSCHER CIF50-DNM、美國(guó)Corelis 公司 PCI-1149、安立Anritsu MA2472A、安立Anritsu ML2437A、Optibase(阿貝斯) Xpress BAC1049、

美國(guó)DIGI公司 Corsair PCI 8、美國(guó)IOTECH公司 Daqboard/2001、美國(guó)ASSET InterTech 邊界掃描卡 Bandary scan 卡 PCI-PCB-100、比利時(shí)EURESYS公司 數(shù)字圖象采集卡 "GRABlink Value"

OPHIR公司 OPHIR SH TO USB INTERFACE ROHS 激光功率能量計(jì)、

英國(guó)CSR（UK）公司 1274 Bluetooth Reference Endpoint 可攜式射頻測(cè)試儀、OMRON R88D-wt30H、

4、有儀器: 泰克Tektronix TDS310、泰克Tektronix TDS340、NI GPIB-120A、NI工控機(jī)箱PXI-1002，PXI-1000B，PXI-1045

5、有掃描槍:ACAN 8600、XL5000、SYMBOL DS6708   NIDQA系列

本公司回收以下品牌各類(lèi)儀器：

NI (美國(guó)國(guó)家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛(ài)德萬(wàn)）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽(yáng)光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測(cè)）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛(ài)斯福）、GW INSTEK （固緯）

回收類(lèi)別：

網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、示波器、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測(cè)試儀、高頻信號(hào)源、頻率計(jì)、功率計(jì)、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線(xiàn)測(cè)試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬(wàn)用表、靜電計(jì)/高阻表、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、LCR測(cè)試儀、電子負(fù)載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測(cè)試儀、高壓機(jī)/耐壓測(cè)試儀、NI機(jī)箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、晶體管測(cè)試儀、調(diào)制度分析儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測(cè)量系統(tǒng)、阻抗測(cè)試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測(cè)儀、耦合板等等。