惠普HP4339B高阻測試儀

產品特點：
＊測量范圍寬：1×103 ～1.6×1016Ω
＊測試夾具穩(wěn)定：比電阻盒，元件測試夾具
＊測量速度高：10ms
＊按測試順序編程
＊計算電阻率
＊被測器件可接地測量

規(guī)格
測量參數(shù)：R（直流電阻），I（直流電流），ps（表面電阻率），pv（體電阻率）
數(shù)學功能：偏差和百分偏差
顯示數(shù)字：3，4或5位（可選擇）
測試電壓：0.1 ～ 1000Vdc
0.1 ～ 200Vdc時，以0.1V步進
0.1 ～ 1000Vdc時，以1V步進
電壓精度：≤200V時為0.16％+100mV
＞200V時為0.16％+500mV
大電流：≤100V時為10mA；≤250V時為5mA
≤500V時為2mA；≤1000V時為1mA
電流相容性調定：0.5mA,1mA,2mA,5mA,10mA
輸出電阻：1KΩ±10％
輸入電阻：1KΩ±10％
測試電纜長度：2 m　（大值）
測量范圍和精度：
直流電流：60fA～100uA 基本精度：±0.4％
直流電阻：1×103 ～1.6×1016Ω　基本精度：±0.6％
測量時間：短：10ms；中：30ms；長：390ms
修正功能：
開路誤差為0：消除由測試夾具中雜散寄生電阻引起的測量誤差
測試序列程序：控制一系列電阻測量。充電時間、測量間隔時間和測量次數(shù)可以編程。
比較功能：對測量參數(shù)設立高/符合/低界限

本公司回收以下品牌各類儀器：

NI (美國國家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛德萬）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛斯福）、GWINSTEK （固緯）

回收類別：

網絡分析儀、頻譜分析儀、綜合測試儀、示波器、信號發(fā)生器、信號分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測試儀、高頻信號源、頻率計、功率計、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線測試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬用表、靜電計/高阻表、函數(shù)信號發(fā)生器、LCR測試儀、電子負載、納伏表/皮安表、多用表校準儀、廣播電視測試儀、高壓機/耐壓測試儀、NI機箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、晶體管測試儀、調制度分析儀、藍牙測試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測量系統(tǒng)、阻抗測試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測儀、耦合板等等。