測(cè)試方法

1、精密法:主要針對(duì)噪音較小的家用電器，電機(jī)或電子產(chǎn)品，本方法要求在ISO3745標(biāo)準(zhǔn)附錄A規(guī)定的半消室進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試室合適性評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)K2<0.5dB,背景噪音ΔL>15dB,聲源體積小于測(cè)試容積的0.5%，截止頻率建議100Hz，測(cè)試點(diǎn)數(shù)10點(diǎn)以上,測(cè)試設(shè)備IEC 804規(guī)定I型;

2、工程法:主要針對(duì)工業(yè)電機(jī)，電動(dòng)工具，輕工業(yè)產(chǎn)品，本方法可以在室外自由場(chǎng)進(jìn)行，也可以在室內(nèi)封閉的等效房間進(jìn)行，測(cè)試室合適性評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)K2<2dB, 背景噪音ΔL>15dB, 測(cè)試點(diǎn)數(shù)9點(diǎn)以上(規(guī)定條件下可減少),測(cè)試設(shè)備IEC 804規(guī)定I型;

3、簡(jiǎn)易法:主要針工業(yè)設(shè)備，本方法可以在室外自由場(chǎng)進(jìn)行，也可以在室內(nèi)封閉的等效房間進(jìn)行，測(cè)試室合適性評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)K2<7dB, 背景噪音ΔL>3dB, 測(cè)試點(diǎn)數(shù)4點(diǎn)以上(規(guī)定條件下可減少),測(cè)試設(shè)備IEC 804規(guī)定II型;